原子力显微镜(AFM)基础知识

由于可见光波长的限制,光学显微镜无法成像 800 纳米以下的物体,因此对于从事纳米尺度实验项目的 研究者来说,原子力显微镜的使用是必不可少的。 原子力显微镜的基本原理(如下图所示)可简单解释如下: 一个微米级的弹性微悬臂,其自由端带有一个锥形探针。该探针的尖端非常锋利(通常小于 10 纳米), 这个探头会在离样品表面非常近的纳米级距离内扫描样品表面。当探针在样品表面移动时,探针尖端原 子与样品表面原子之间的范德华力会发生变化,导致微悬臂产生垂直位移。 微悬臂的垂直运动通过光学方法检测:从微悬臂背面反射的激光束会照射到四象限光电二极管上,光电二极管的输出信号与微悬臂的垂直运动相关,而这一运动又反映了样品的表面形貌。

光电二极管的输出信号