半导体

离子注入

离子注入是半导体晶圆掺杂的核心制程,通过将硼、磷、砷等掺杂元素电离,加速注入晶圆硅衬底,精准调控器件电学性能,是晶体管源漏极、阱区、隔离结构制备的必备环节。其中:低能注入适配超浅结制程,中能注入适配通用逻辑芯片,高能注入适配功率器件、CMOS 图像传感器的…

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CCP/ICP 等离子体刻蚀

【应用介绍】等离子体刻蚀是 28nm 及以下先进制程的核心图形转移工艺,分为 CCP 电容耦合刻蚀(适配高深宽比介质刻蚀)、ICP 电感耦合刻蚀(适配低损伤硅 / 金属刻蚀),通过等离子体的物理轰击 + 化学反应,在晶圆表面实现纳米级图形的精准转移,是逻辑芯片、3D NAND 存…

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磁控溅射 PVD 镀膜

【应用介绍】磁控溅射是晶圆金属化制程的核心工艺,通过高能离子轰击靶材,使靶材原子逸出并均匀沉积在晶圆表面,形成金属互连层、阻挡层、种子层、焊盘凸点,适配铝、铜、钛、金、镍铬等多种靶材,是晶圆制造、先进封装的必备环节。【电源核心作用】1.为溅射靶材提供负高…

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晶圆静电卡盘(ESC)配套工艺

【应用介绍】静电卡盘是光刻机、刻蚀机、镀膜机、晶圆检测设备的核心晶圆夹持部件,通过静电吸附力将晶圆牢牢固定在卡盘表面,相比机械夹持,可实现晶圆无应力全表面贴合,无局部形变,保障制程均匀性,是 12 英寸大尺寸晶圆制程的必备核心部件,分为库仑型、J-R 型两大类…

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第三代半导体(SiC/GaN)专用制程

【应用介绍】适配碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)等宽禁带半导体的全流程制造,包括 SiC 单晶衬底生长、GaN 外延层制备、高能离子注入掺杂、高温激活退火、器件高压特性测试,是新能源汽车、光伏、5G 射频用第三代半导体器件制造的核心环节。【电源核心作用】1.为 SiC 单晶…

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