扫描电子显微镜是材料微观形貌表征、半导体晶圆缺陷检测、芯片失效分析的核心设备，通过聚焦电子束轰击样品，采集二次电子 / 背散射电子信号，实现纳米级分辨率的表面形貌成像，广泛应用于半导体、材料、地质、生物等领域。
1.为电子枪提供 1kV~30kV 超高稳定度加速高压，构建强电场使阴极发射的电子获得可控动能，形成准直电子束；
2.为电磁透镜、扫描偏转系统提供配套高压，实现电子束的精准聚焦与扫描；3.为探测器提供偏置高压，提升信号采集效率。
ppm 级长期电压稳定度，纹波≤10mVpp，超低噪声，高抗干扰，体积小巧可集成，适配国产台式 / 落地式 SEM 设备配套需求。
通过高压电源为电子枪提供超高稳定加速高压，使电子束聚焦后轰击样品，产生二次电子、背散射电子等特征信号；同时为探测器提供偏置高压，实现微弱信号的高效采集，通过信号处理形成纳米级分辨率的样品表面形貌图像。
半导体晶圆缺陷检测、芯片失效分析、材料微观结构表征、纳米材料研发、地质矿产检测。
